Maiga, A. ., Bonnaud, O. ., Rolland, L. et Taurin, M. . (2008) « Determination of the origin of failure mechanism involved in the degradation of the threshold voltage of a PMOS FET associated to a lateral PNP bipolar transistor in a I2L test cells  », Journal des Sciences Pour l’Ingénieur, 8. Disponible sur: http://webtest.ucad.sn/JSPI/index.php/jspi/article/view/8 (Consulté le: 23 novembre 2024).