Maiga, A. ., O. . Bonnaud, L. Rolland, et M. . Taurin. « Determination of the Origin of Failure Mechanism Involved in the Degradation of the Threshold Voltage of a PMOS FET Associated to a Lateral PNP Bipolar Transistor in a I2L Test Cells ». Journal Des Sciences Pour l’Ingénieur, vol. 8, octobre 2008, http://webtest.ucad.sn/JSPI/index.php/jspi/article/view/8.